【技术类】Raster Products，便捷使用影像产品(中)

Mensuration——建筑物高度量测利器
ArcGIS 10.1中，影像分析窗口（Image Analysis window）新增了一系列的影像测量工具，包括对点、距离、角度、高度、周长以及面积的量测。基于传感器信息以及地理转换信息，这些工具可以直接作用于栅格数据集或镶嵌数据集。
“Mensuration”被定义为运用几何规则，量测物体长度，表面积，或通过线和角度得到量测信息。
任何含有地理参考的栅格数据集都可以提供距离、面积、点和质心位置。通过传感器模型，可以进行建筑物的高度量测。当利用阴影进行高度量测时，需要影像的太阳高度角信息。如果需要进行建筑物三维量测，则需要添加DEM数据。下图为各工具使用时需要的参数说明。

1. 量测工具说明
1.1 距离或长度的量测工具

工具可以量测两个或多点之间的距离。工具可以统计面积大小与周长。当进行三维量测时，统计的数据会随着DEM数据进行自动更新。
1.2 计算点
点工具测量点的具体位置。质心位置工具统计区域的质心位置。当进行三维量测时，统计的数据会随着DEM数据进行自动更新。
1.3 高度量测
底到顶的高度量测工具 统计建筑物从底部到顶部的高度信息。这是种垂直量测方式。因此，量测的建筑物不能含有角度信息。也就是说，建筑物的底部到顶部必须是垂直的。

顶部到阴影的高度量测工具 统计建筑物的顶部与其在地面投射的阴影之间的距离，根据这一距离，反算出建筑物的实际高度。在建筑物上指定的点与阴影上绘制的点必须代表同一位置。当进行三维量测时，统计的数据会随着DEM数据进行自动更新。这个工具对于利用建筑物的顶部信息进行高度量测是很有用的，举个例子来说，如果有一个锥状或塔状的建筑物，利用底到顶的高度量测工具不能有效的得到建筑物的高度信息，但是可以通过量测建筑物顶部某点及其该点在地面的投影点，从而得到建筑物的高度信息。

底部到阴影的高度量测工具 统计建筑物的底部与其在地面投射的阴影之间的距离，根据这一距离，反算出建筑物的实际高度。在建筑物上指定的点与阴影上绘制的点必须代表同一位置。当进行三维量测时，统计的数据会随着DEM数据进行自动更新。
通过在影像分析窗口中选择一个DEM数据，来校正量测的建筑物高度值。然而，如果DEM数据不是很精确，我们也无法得到一个有效值。
1.4 三维量测
三维量测选项可以修正建筑物的量测结果，通过选择DEM，提供地表的距离信息；否则，提供的距离是投影距离，测距时只能利用影像本身的信息了。三维量测选项仅应用在距离、面积、点位置和质心位置工具。

2. 量测结果窗口
当进行一次量测时，影像量测结果窗口会自动弹出，或者可以在影像分析窗口中通过 打开它。它是一个可停靠窗口。如果要改变量测单位，通过量测结果窗口的
下拉工具条可进行单位的设置。

2.1 重新显示或预览量测结果
在量测结果窗口中点击测量记录，之前的量测信息会在桌面端得到呈现。可以通过CRTL或SHIFT键选择多个结果。使用影像分析窗口提供的默认值会显示出点或线的量测信息。要想更改默认值，可通过影像分析窗口上方的工具进行设置。

2.2 标签
通过点击启用/禁用按钮 ，当显示测量的地物时，具体的测量值会得到显示。

2.3 保存或加载测量结果
每个在量测结果窗口中显示的结果都可以保存为一个要素类。在量测结果窗口中，选择 按钮保存量测结果。如果想加载保存的量测结果，选择加载按钮导入结果文件。
3. 查看NITF 元数据
当使用NITF数据时, 可以通过点击 按钮查看传感器元数据信息。

4. 对各类传感器影像的支持情况
下表为ArcGIS中各类传感器产品的raster products以及通过Raster Type创建的镶嵌数据集所支持的影像量测功能情况。如果传感器的元数据信息得到丰富，Raster products 和 raster types实现的功能也将更加强大。

5. 应用案例
不仅可以在桌面端应用影像量测功能，同样的，可以在web端进行相关操作。下为在线影像量测应用的链接地址。应用中，提供了三种不同的量测方式量取建筑物高度，并可以通过获取建筑物实际高度，进行精度评价。感兴趣的童鞋千万不要错过了~

http://tm.arcgisonline.cn:8038/APP1/MeasureBuildingHeights/
文章来源：http://blog.csdn.net/arcgis_all/article/details/8239331